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詳細(xì)信息 HP-C-VE 光學(xué)測(cè)頭HP-C-VE能夠安裝在測(cè)量機(jī)上，實(shí)現(xiàn)了大尺寸部件上面微小特征的放大測(cè)量。
詳細(xì)信息 HP-L-10.6 激光掃描測(cè)頭功能完善的交鑰匙方案，通過(guò)快速點(diǎn)云采集，完成與CAD 比較測(cè)量、自由曲面檢測(cè)以及逆向工程等任務(wù)。
詳細(xì)信息 .HP-OW光學(xué)測(cè)頭：應(yīng)用白光共聚焦技術(shù)，
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